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采用SVP470振動(dòng)探針測(cè)試植物
  • 發(fā)布時(shí)間 : 2019-09-05 10:07:11
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  采用SVP470振動(dòng)探針測(cè)試植物
  1.簡(jiǎn)介
  SVP470是M470掃描電化學(xué)工作站的振動(dòng)探針模塊。采用SVP470可以測(cè)試溶液中樣品表面的局部電流分布。
  1974年Nuccitelli和Jaffe首次引入振動(dòng)探針,以研究與生物過(guò)程(如胚胎發(fā)育)相關(guān)的細(xì)胞外電流[1]。從那時(shí)起,振動(dòng)探針被應(yīng)用于研究植物光合作用[2, 3]、傷口愈合[4]、腫瘤細(xì)胞[5]和肢再生[6]。振動(dòng)探針在腐蝕和涂層等相關(guān)領(lǐng)域也得到了廣泛的應(yīng)用。20世紀(jì)80年代,Hugh Isaacs首次將振動(dòng)探針引入掃描振動(dòng)電極技術(shù)(SVET)[7]。

  本文中通過(guò)測(cè)量吊蘭葉片證實(shí)SVP470(如圖1所示)在生物樣品測(cè)量方面的應(yīng)用。了解局部電流分布對(duì)于研究植物是非常重要的,因?yàn)槠渑c光合作用[2, 3]、傷口[8]和壓力[9]有關(guān)。

  圖1 SVP470圖
  1.振動(dòng)探針原理
  在溶液中的自然活性或偏壓樣品上方會(huì)產(chǎn)生電流。由于iR降,這會(huì)引起活性區(qū)上方的電位梯度。電位梯度的強(qiáng)度與樣品活性和溶液電導(dǎo)率有關(guān)。振動(dòng)探針測(cè)量可以測(cè)量樣品上方的電位梯度,如圖2所示。從局部電位梯度可以確定存在的局部電流密度。


  圖2 振動(dòng)探針中,探針樣品根據(jù)其在Z中的位置而具有不同的電位
  在振動(dòng)探針中,探針使用壓電振動(dòng)器垂直于樣品平面振動(dòng)。在給定的x,y位置,當(dāng)活性和溶液電導(dǎo)率恒定時(shí),測(cè)得的電位僅取決于探針在z方向振動(dòng)的位置。因此,用靜電計(jì)可以測(cè)量帶有直流偏移的交流電位。作為鎖定放大器的輸出,獲得與交流信號(hào)振幅成比例的直流電壓。振動(dòng)探針測(cè)量中涉及的電子元件如圖3所示。



  通常,為了獲得感興趣的最終電流密度信號(hào),局部電位測(cè)量被校準(zhǔn)到已知恒流源。
  1.方法
  采用SVP470振動(dòng)探針在自來(lái)水中測(cè)量了吊蘭葉片的下表面。
  將葉子從植物上取下,用藍(lán)丁寶貼固定在玻璃盤(pán)中,底部朝上。玻璃盤(pán)替換了Tricell(電解池)的主體,以使樣品水平,如圖4所示。



  圖4 將葉子固定在玻璃盤(pán)中
  在振動(dòng)探針測(cè)量中,除了探針外,還需要第二個(gè)電極來(lái)組成電解池,并允許測(cè)量電位差。因?yàn)樵谶@里所示的實(shí)驗(yàn)中沒(méi)有施加電位,所以使用碳棒作為第二個(gè)電極。如圖5所示,通過(guò)隨SVP470提供的JC12CRC電纜的信號(hào)和接地連接,將碳棒連接到靜電計(jì)的“-Vin”連接。



  圖5 振動(dòng)探針測(cè)量中電極和樣品的安裝
  葉片的振動(dòng)探針測(cè)量采用Sweep Scan模式,掃描面積500μm x 500μm,掃描速度為1000μm/s,步長(zhǎng)為5μm。為了確定參比相位,使用了自動(dòng)調(diào)諧功能(auto-tune)。當(dāng)使用此功能時(shí),鎖定放大器確定在測(cè)量的交流信號(hào)和參比交流信號(hào)之間產(chǎn)生0°相位差的參考相位。通過(guò)實(shí)現(xiàn)0°相位差,信號(hào)輸出最大化。自動(dòng)調(diào)諧功能的詳細(xì)描述可在M470軟件的HELP文件的“CHM和CTM信號(hào)解調(diào)”頁(yè)中找到。信號(hào)調(diào)節(jié)設(shè)置如表1所示。



  表1 葉片測(cè)量的SVP470信號(hào)調(diào)節(jié)設(shè)置
  完成葉片振動(dòng)探針測(cè)量后,校準(zhǔn)探針,允許將原始電位測(cè)量轉(zhuǎn)換為感興趣的電流測(cè)量。
  后處理,包括背景傾斜校正,使用Gwyddion軟件[10]進(jìn)行。
  1.結(jié)果
  振動(dòng)探針測(cè)量吊蘭植物葉片底部的結(jié)果如圖6所示。



  圖6 吊蘭植物葉片底部的振動(dòng)探針測(cè)量,圖中圈出位置為: (a)上皮細(xì)胞; (b)氣孔; (c)未分化細(xì)胞
  電流密度較高位置可見(jiàn)清晰的類(lèi)金剛石結(jié)構(gòu)。這些特征與Chorlton[11] 文獻(xiàn)中顯示的上皮細(xì)胞的形狀很匹配。在一些上皮細(xì)胞的基部,較低電流密度的小橢圓形區(qū)域明顯。這些與氣孔有關(guān)。圖上還發(fā)現(xiàn)了一個(gè)可能的未分化細(xì)胞的例子。細(xì)胞外電流的存在是由于植物葉片上的信號(hào),這是由離子調(diào)節(jié)。這種信號(hào)驅(qū)動(dòng)植物保護(hù)細(xì)胞的打開(kāi)和關(guān)閉,允許氧氣和二氧化碳通過(guò)氣孔擴(kuò)散。
  取一對(duì)上皮細(xì)胞的橫截面,將其長(zhǎng)度與文獻(xiàn)中的長(zhǎng)度關(guān)聯(lián)起來(lái),如圖7所示。兩個(gè)表層細(xì)胞的長(zhǎng)度分別為250和206μm,與Chorlton[11]所示的長(zhǎng)度吻合。


  圖7 用橫截面確定上皮細(xì)胞長(zhǎng)度
  1.結(jié)論
  本文介紹了振動(dòng)探針(SVET)在植物葉片細(xì)胞外電流成像中的應(yīng)用。利用振動(dòng)探針可以利用局部電流密度來(lái)區(qū)分葉片的不同特性。與氣孔相比,上皮細(xì)胞的電流密度更高。


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